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高精度波形记忆分析型镜头快门测试仪
The lens shutter tester of a high precision waveform memory analysis scheme
镜头快门测试仪采用高精度波形记忆分析方法
高精度波形存储器分析方案的镜头快门测试仪
| 被測定物（Measurement shutter） | 数码相机的快门单元 |
| 測定項目（Measuring items） |
全开时间（T1）
关闭工作时间（T2）
有效暴露时间（TE）
光圈值（Av）
曝光值的差异或光圈值的差异（⊿EV）
|
| T2閉じ動作検出点（T2 Point detecting [closing operation]） | 0-100%, 5-95%, 10-90%, 15-85%, 20-80% |
| 測定有効絞り口径（measuring effective aperture diameter） | φ14.0〜φ1.0 |
| 測定範囲（Measuring range） |
±4 EV（曝光错误）
1到11 AV（Apature值）
1/30至1 / 4,000秒（曝光时间）±4 EV
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| 測定精度（Measurement accuracy） |
±15μs（一秒钟时）
±0.05 EV（光圈值，曝光值）
±0.03 EV（IRIS模式孔径值测量）
|
| 電源（Power Supply） | AC100〜240V（50Hz/60Hz）・90VA |
| 外形寸法（Dimensions） |
Control unit 130（W）×127（H）×286（D）mm・5kg Light Source and Receptor 90（W）×169（H）×304（D）mm・2kg |
| 外部インターフェース（External interface） | RS232C |
联系人：陈先生（Mr Aaron Chen ）
手机：13076936897（微信同号）
电话：0755-2656 1139
邮箱：sales@wylab.com.cn
地址： 深圳市宝安区甲岸路31号华丰青年创业孵化基地9楼901
