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Macrochart（13x13 cm）由倾斜边缘和安装在铝板上的失真布局（TE251）组成。该图表带有特殊的对齐框架，可确保可重复定位。
| 类型 | 反光 |
| 格式 | 120 x120毫米 |
| 宽高比 | 3：2 |
微距测试卡TE274由两部分组成：
斜边用于分辨率测量
该测试卡包含15个斜边结构，每个具有两个垂直和两个水平
边缘和聚焦辅助在中心。斜边结构倾斜5°并且具有大约97％的调制。
斜边以一种方式布置，以在图像高度（3：2纵横比）的30％，45％，60％和75％处递送轴分辨率和分辨率。
交叉图用于失真测量
白色背景上的黑色十字用于确定透镜几何畸变（LGD）和色差。
将微距测试卡放在相机外的桌子上。从测试卡的上部（斜边）开始，将框架中的测试卡滑动到向下位置。调整相机和测试卡之间的距离，直到斜边图表填满图像高度。拍摄图像后，将图框滑动到上边框。现在失真部分恰好在用于拍摄图像的位置。不需要重新调整或重新聚焦。
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